Préface
Introduction à la gestion des données de test
- Présentation de Test Data Management
- Cas d'utilisation de Test Data Management
- Architecture TDM
- Processus TDM
- Exemple TDM
- Utilisation du paramétrage avancé dans Test Data Manager
Test Data Manager
- Présentation de Test Data Manager
- Interface utilisateur de Test Data Manager
- Présentation Afficher
- Vue Stratégies
- Vue Ensembles de données
- Vue Projets
- Vue Surveillance
- Paramètres Afficher
- Vue Administrateur
- Générateur d'expressions
- Connexion à Test Data Manager
Projets
- Présentation des projets
- Composants de projet
- Paramètres
  - Règles et directives applicables aux paramètres
- Journaux de projet
- Propriétés de session de la transformation Masquage des données
- Gestion de projet
- Sources de données
- Supprimer une table
  - Suppression d'une table
- Autorisation de projet et sécurité
  - Autorisations du projet
  - Mise à jour de la sécurité des utilisateurs et des groupes
Stratégies
- Présentation des stratégies
- Vue Stratégies
- Flux de tâches de stratégies
- Règles
- Domaines de données
- Packs de stratégies
- Importation et exportation
- Liaison de conditions d'un glossaire métier à des objets globaux
  - Liaison d'un terme métier à un objet
  - Suppression du lien de terme d'entreprise à un objet
- Gestion des stratégies
Data Discovery
- Présentation de Data Discovery
- Sources de découverte de données
  - Règles et instructions pour les sources de découverte de données
- Vue Découvrir
- Propriétés de colonne
- Flux de tâches de la découverte de données
- Découverte de clé primaire
  - Options de profil de clé primaire
- Découverte d'entité
  - Options de profil d'entité
- Découverte de domaine de données
- Profil de colonne
  - Règles inférées
  - Options de profil de colonne
- Gestion de profil
- Importation d'un profil
  - Importation d'un profil
- Application des résultats
- Tables de projet
Création d'un sous-ensemble de données
- Présentation des sous-ensembles de données
- Sous-ensemble de données Flux de processus
- Sous-ensemble de données Composants
  - Entités
    - Vues de l'entité
  - Groupes
    - Exemple de groupe
- Création d'une entité
- Options d'intégrité des données dans un plan de sous-ensemble de données
- Création d'un groupe
- Application de critères à un élément ou à un attribut
- Modification d'un composant de sous-ensemble de données
- Exportation d'un composant de sous-ensemble de données
- Importation d'un composant de sous-ensemble de données
- Copie d'un composant de sous-ensemble de données
- Suppression d'un composant de sous-ensemble de données
- Création d'un sous-ensemble de données
- Exemple - Sous-ensemble de données pour les sources de données XSD
Exécution d'une opération de masquage des données
- Présentation du masquage des données
- Flux de tâches du masquage des données
- Règles de masquage des données
- Création et attribution de règles de masquage des données
- Modification des règles et des attributions de masquage des données
- Exécution d'une opération de masquage des données
- Composants de masquage des données
  - Masquage de composants dans PowerCenter
    - Exportation de mapplet
Techniques et paramètres du masquage des données
- Présentation des techniques et des paramètres de masquage des données
- Techniques de masquage des données
- Paramètres de masquage des données
  - Sortie répétitive
    - Amorce
  - Gestion des exceptions
- Masquage personnalisé
  - Paramètres de masquage personnalisé
- Masquage avancé
  - Paramètres de masquage avancé
  - Exemple de masquage avancé
- Masquage de cartes de crédit
  - Paramètres de masquage des cartes de crédit
- Masquage d'e-mail
  - Paramètres de masquage d'e-mail
- Masquage de chiffrement
  - Paramètres de masquage de chiffrement
- Masquage des expressions
  - Paramètres de masquage des expressions
  - Règles et directives pour le masquage des expressions
- Masquage d'adresse IP
- Masquage de clé
  - Format du masque
  - Caractères de chaîne source
  - Caractères de remplacement de la chaîne résultat
  - Insensible à la casse
  - Masquage de chaîne délimitée
  - Masquage de clés de date
  - Paramètres de masquage de clé numérique
  - Paramètres de masquage de clé de chaîne
- Masquage d'annulation
- Masquage de téléphone
- Masquage aléatoire
  - Masquage de plage
  - Brouillage
  - Format du masque
  - Caractères de chaîne source
  - Caractères de remplacement de la chaîne résultat
  - Paramètres de masquage de date aléatoire
  - Paramètres de masquage numérique aléatoire
  - Paramètres de masquage de chaîne aléatoire
- Masquage aléatoire
  - Paramètres de masquage aléatoire
  - Règles et directives du masquage aléatoire
- Masquage des SIN
- Masquage SSN
- Masquage de substitution
  - Paramètres de masquage de substitution
- Masquage d'URL
- Exemple de substitution de nom
  - Ajouter un dictionnaire dans Test Data Manager
    - Ajout d'un dictionnaire relationnel
    - Ajout d'un dictionnaire de fichier plat
  - Création de la règle de substitution
  - Création de la règle de masquage avancée
- Exemple de permutation aléatoire des adresses
  - Création de la règle de permutation aléatoire
  - Création de la règle de masquage avancé
Génération des données
- Présentation de la génération des données
- Composants de génération des données
- Règles et directives applicables aux entités
- Flux de tâches de génération de données
- Types de règles de Génération de données
- Paramètres par défaut
- Définir les règles de génération par défaut
- Règles de génération standard
- Règles de génération personnalisées
  - Création d'une règle de génération personnalisée
- Règles de génération ad hoc
  - Création d'une règle de génération ad hoc
  - Modification d'une règle de génération ad hoc
- Règles de génération avancée
  - Exemple de règle de génération avancée
  - Création d'une règle de génération avancée
- Contraintes conditionnelles
  - Contraintes conditionnelles et conflits de données
- Affectation de règles de génération des données
- Génération de données pour des sources XSD
  - Flux de tâche de génération de données pour les sources XSD
  - Application des règles de génération de données aux attributs et aux éléments XML
- Plans et flux de travail de Génération de données
Techniques et paramètres de génération des données
- Présentation des techniques et des paramètres de génération des données
- Techniques de génération des données
- Paramètres de génération des données
  - Données de test d'exception
    - Paramètres de données de test d'exception
- Génération personnalisée
  - Paramètres de génération personnalisés
- Génération avancée
  - Paramètres de génération avancée
- Génération de dictionnaire
  - Paramètres de génération de dictionnaire
- Génération des dates d'effet
  - Exemple de génération des dates d'effet
  - Paramètres de génération des dates d'effet
- Génération d'expression
  - Paramètres de génération d'expression
- Génération aléatoire
- Génération de numéro de carte de crédit
  - Numéro d'identification d'émetteur
  - Paramètres de génération de carte de crédit
- Génération de recherche de référence
  - Paramètres de génération de recherche de référence
- Génération de séquence
  - Paramètres de génération de séquence de dates
  - Paramètres de génération de séquence numérique
- Génération d'ensemble de valeurs
  - Paramètres de génération d'ensemble de valeurs
- Génération conditionnelle
  - Paramètres de génération conditionnelle
Utilisation de Test Data Warehouse
- Présentation de Test Data Warehouse
- Processus de Test Data Warehouse
- Ensembles de données
  - Balises d'ensemble de données
- Portail libre-service de Test Data Management
- Création d'un jeu de données
- Réinitialiser un ensemble de données
- Modification des métadonnées d'un ensemble de données
- Publication d'un Ensemble de données sur le Portail libre-service
- Suppression d'un Ensemble de données
- Ensembles de données associés
- Autorisations d'ensemble de données
  - Modification d'une autorisation d'ensemble de données
- Verrouillage et déverrouillage d'un ensemble de données
- Surveiller une tâche d'ensemble de données
- Afficher et gérer des données dans un Ensemble de données
Analyse des données de test à l'aide de la couverture de données
- Aperçu de l'analyse de couverture de données
- Processus de couverture de données
- Création d'une tâche de couverture de données
- Colonnes de tâche de couverture de données
- Page de l'analyse de couverture de données
- Modification d'une tâche de couverture de données
- Marquage d'une cellule comme étant non valide
- Mise à jour de données dans toutes les cellules
- Entrée utilisateur des tâches Remplir les cellules
- Exemple d'analyse de couverture de données
  - Tables dans le Ensemble de données
  - Analyse de couverture de données
Plans et flux de travail
- Présentation des plans et des flux de travail
  - Liste des tâches de plans et de flux de travail
- Connexions de flux de travail
- Composants du plan
- Paramètres de flux de travail antérieur et postérieur
- Instructions pré et post-SQL de la cible
- Conserver le mappage
- Paramètres du plan
- Composants de masquage
- Composants de sous-ensemble
- Composants de génération
- Composants Hadoop
- Critères de composant
  - Filtrage des composants des sous-ensembles de données
  - Désactivation du masquage d'une colonne
- Paramètres source
- Utilisation d'un fichier de liste
- Gestion du plan
- Génération de flux de travail
- Fichiers de paramètres dans Test Data Manager
  - Création d'un fichier de paramètres
- Exécution d'un flux de travail
- Vue Exécutions d'un flux de travail
  - Tâches de flux de travail
  - Panneau de propriétés du flux de travail
    - Onglet Sessions du flux de travail
    - Détails de session
Surveiller
- Présentation de la vue Surveillance
- Tâches
  - Détails de la tâche
- Surveillance des tâches
- Journaux
  - Niveaux de gravité
  - Affichage des messages de journal
- Sessions
- Surveillance pour Hadoop
Rapports
- Présentation des rapports
- Rapport de suivi d'audit
  - Exécution d'un rapport de suivi d'audit
- Rapport de masquage des données
  - Exécution du rapport de masquage des données
- Rapport d'audit du plan
  - Exécution d'un rapport d'audit du plan
- Rapport détaillé du plan
  - Exécution du rapport détaillé du plan
- Rapport du calcul des lignes
  - Exécution du rapport du calcul des lignes
ilmcmd
- Présentation d'ilmcmd
- Configuration d'ilmcmd
- Exécution d'ilmcmd
- Entrée d'options et d'arguments
- Notation de syntaxe
- Supprimer
  - Exemples de suppressions
- Exporter
  - Exemples d'exportations
- Importer
  - Exemples d'importations
- Rechercher
  - Exemples de recherches
- Mettre à jour l'hôte
- Flux de travail
  - Exemples de flux de travail
- Mise à jour des informations d'identification de connexion
- Reset
- ListPlans
- TDWPlanGenerate
- TDWPlanExecute
- TDWPlanGenExe
tdwcmd
- Présentation de tdwcmd
- Exécution de tdwcmd
- Entrée d'options et d'arguments
- Notation de syntaxe
- Liste
  - Exemples d'énumérations
tdwquery
- Présentation de tdwquery
- Configuration de tdwquery
- Exécution de tdwquery
- Clause SELECT
Annexe A: Référence sur les types de données
- Présentation de la référence sur les types de données
- Oracle
- Microsoft SQL Server
- Microsoft Azure SQL
- Microsoft Azure SQL Data Warehouse
- Amazon Redshift
- DB2 for Linux, UNIX and Windows
- Sybase ASE
- HDFS
- Hive
- HDFS Hadoop
- MySQL
- Fichier plat
- Enregistrement unique séquentiel
- Enregistrements multiples séquentiels
- VSAM plat/Enregistrement unique
- Enregistrements multiples VSAM
- DB2 for z/OS
- DB2 for IOS
- Fichier plat IMS/Enregistrement unique
- Enregistrements multiples IMS
- Sybase IQ
- Netezza
- Teradata
- Cassandra
- MongoDB
- PostgreSQL
Annexe B: Référence sur les types de données pour Test Data Warehouse
- Présentation de la référence sur les types de données pour Test Data Warehouse
- Oracle
- Microsoft SQL Server
- Microsoft Azure SQL
- Microsoft Azure SQL Data Warehouse
- Amazon Redshift
- DB2 for Linux, Unix and Windows
- DB2 for z/OS
- Fichier plat IMS/Enregistrement unique
- Enregistrements multiples IMS
- Enregistrement unique séquentiel
- Enregistrements multiples séquentiels
- Fichier plat VSAM/Enregistrement unique
- Enregistrements multiples VSAM
- Sybase ASE
- Teradata
- MongoDB
- Cassandra
- PostgreSQL
Annexe C: Référence sur les types de données pour Hadoop
- Présentation de la référence sur les types de données pour Hadoop
- Oracle
- Microsoft SQL Server
- DB2 pour Linux, Unix et Windows
- Sybase ASE
- Fichier plat
- Hive
- HDFS
- HDFS Hadoop
- Connexion JDBC
Annexe D: Glossaire
- Glossaire de termes

Guide de l'utilisateur

10.5.7
- 10.5.6
- 10.5.3
- 10.5.2
- 10.5.1
- 10.5
- 10.4.1
- 10.4.0

Précédent Suivant

Options de profil de colonne

Vous pouvez configurer des options d'échantillonnage lorsque vous créez ou modifiez un profil de colonne.

Le tableau suivant décrit les options d'échantillonnage d'un profil de colonne :

Option	Description
Pourcentage de conformité maximal pour les modèles	Requis. Pourcentage minimal de modèles que vous voulez dans les résultats de profil. La valeur par défaut est 5. Si les modèles sont inférieurs au pourcentage de conformité minimal, TDM n'affiche pas les modèles dans les résultats de profil.
Nombre maximal de lignes à profiler	Requis. Nombre maximal de lignes sur lesquelles vous voulez exécuter le profil. Vous pouvez choisir toutes les lignes de l'objet de données ou entrer le nombre de lignes que vous voulez profiler. La valeur par défaut est Tout.
Couverture de données minimale à afficher dans la liste de valeurs	Requis. Pourcentage minimal de données que vous voulez dans la liste de valeurs. La valeur par défaut est 80. Si le nombre maximal de valeurs que vous voulez dans la liste de valeurs est 20, 80 % des données doivent contenir ces 20 valeurs.
Nombre maximal de valeurs dans la liste de valeurs	Requis. Nombre maximal de valeurs que vous voulez dans la liste de valeurs. La valeur par défaut est 20.

Profil de colonne

Télécharger le guide

Envoyer les commentaires

Communities

Knowledge Base

Portail du succès

Rename Saved Search

Table des matières

Guide de l'utilisateur

Guide de l'utilisateur

Options de profil de colonne

Options de profil de colonne